С помощью металлографических микроскопов проводят исследования шлифов металлов или руд, фрагментов горных пород и различных минералов. Конструкция прибора должна соответствовать особенностям изучаемых объектов и необходимой точности.

Базовой методикой исследования непрозрачных структур является микроскопия по методу светлого поля. При этом свет от источника попадает на отражающую сторону полупрозрачного зеркала, проходит через объектив и направляется перпендикулярно к исследуемой поверхности. Затем, отражаясь от объекта, он опять проходит через объектив и уже пропускающую часть полупрозрачной пластины. Формируемое в данном случае изображение лишено искажений и достаточно достоверно, так как отраженные от предмета лучи имеют разную по значению интенсивность.

Для проведения наблюдений с использованием описанной методики подойдут упрощенные модели прямых микроскопов (оптическая часть над исследуемым образцом) Альтами МЕТ 1М и МЕТ 2, а также приборы с инвертированным расположением объектива, окуляров и насадки (под образцом) — в моделях Альтами МЕТ 3, МЕТ4 и МЕТ 5С. Для исследования шлифов подойдет прямой микроскоп, тогда как для изучения поверхностей крупных фрагментов пород лучше выбрать инвертированный.

Метод темнопольной микроскопии в отраженном свете является не альтернативой, а скорее дополнением к исследованию в светлом поле. С помощью данного метода контрастирования можно обнаружить более мелкие включения и неровности поверхности предмета. Для проведения исследования необходима специальная диафрагма, с помощью которой формируется кольцевой световой поток, используемый для освещения объекта. Свет попадает на отражающую сторону полупрозрачной пластины, направляется перпендикулярно исследуемой структуре и фокусируется с помощью эпизеркала, расположенного в корпусе объектива. Отражаясь от предмета, свет вновь попадает в систему эпизеркала и пропускается полупрозрачной пластиной, формируя изображение. При этом неоднородности поверхности объекта имеют вид ярких световых пятен на темном фоне.

Возможность проведения исследования в темном поле предусмотрена конструкцией прямого металлографического микроскопа Альтами МЕТ 1МТ, а также — моделей инвертированных микроскопов Альтами МЕТ 6 и МЕТ 5, последний из которых является универсальным и поддерживает исследование образцов не только в отраженном, но и в проходящем свете по методу светлого поля.